TEM和SEM
TEM与SEM
SEM（扫描电子显微镜/显微镜）和TEM（透射电子显微镜/显微镜）都涉及仪器和电子显微镜中使用的方法。
两者之间有许多相似之处。两者都是电子显微镜的类型，并且可以观察，研究和检查小的亚原子粒子或样品的组成。两者都使用电子（特别是电子束），即原子的负电荷。而且，使用中的两个样品都需要“染色”或与特定元素混合以产生图像。由这些仪器产生的图像被高度放大并具有高分辨率。
然而，SEM和TEM也存在一些差异。 SEM中使用的方法基于散射电子，而TEM基于透射电子。 SEM中的散射电子被分类为反向散射或二次电子。然而，TEM中没有其他电子分类。
SEM中的散射电子在显微镜收集并计数散射电子后产生样品图像。在TEM中，电子直接指向样品。穿过样品的电子是图像中照射的部分。 分析的重点也不同。 SEM专注于样品的表面及其成分。另一方面，TEM试图了解表面内部或外部的内容。 SEM还逐位显示样品，而TEM显示样品整体。 SEM还提供三维图像，而TEM提供二维图像。
就放大率和分辨率而言，TEM与SEM相比具有优势。 TEM具有高达5000万的放大倍数，而SEM仅提供200万作为最大放大倍数。 TEM的分辨率为0.5埃，而SEM的分辨率为0.4纳米。然而，与TEM产生的图像相比，SEM图像具有更好的景深。 另一个不同点是样品厚度，“染色”和制剂。与SEM样品相比，TEM中的样品被切割得更薄。此外，SEM样品被捕获散射电子的元素“染色”。
在SEM中，样品在专门的铝短柱上制备并放置在仪器腔室的底部。将样本的图像投影到CRT或类似电视的屏幕上。 另一方面，TEM要求样品在TEM网格中制备并放置在显微镜专用室的中间。图像由显微镜通过荧光屏产生。
SEM的另一个特征是放置样品的区域可以以不同的角度旋转。 TEM早于SEM开发。 TEM由Max Knoll和Ernst Ruska于1931年发明。同时，SEM创建于1942年。由于机器扫描过程的复杂性，它是在稍后开发的。
摘要： SEM和TEM是两种类型的电子显微镜，是查看和检查小样品的工具。两种仪器都使用电子或电子束。两种工具中生成的图像都经过高度放大，并提供高分辨率。 2.每个显微镜的工作原理与另一个非常不同。 SEM通过释放电子扫描样品表面并使电子在撞击时反弹或散射。机器收集散射的电子并产生图像。图像在类似电视的屏幕上可视化。另一方面，TEM通过将电子束引导通过样品来处理样品。使用荧光屏可以看到结果。 3.图像也是两种工具之间的差异点。 SEM图像是三维的并且是精确的表示，而TEM图像是二维的并且可能需要一点点解释。在分辨率和放大倍数方面，与SEM相比，TEM获得了更多优势。
